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Curso de posgrado Caracterización espectroscópica y morfológica de materiales
Durante la semana del 13 al 17 de marzo, se realizará el curso de posgrado "Caracterización espectroscópica y morfológica de materiales", organizado por el departamento de Ingeniería en Materiales.
El curso está dirigido a estudiantes de postgrado y de pregrado. Tiene como objetivo utilizar técnicas de análisis espectroscópico para la caracterización de materiales específicamente RAMAN, UV-VIS, FTIR. De igual forma el curso pretende enfocar las técnicas anteriores para el análisis morfológico de materiales mediante el uso de herramientas como: Microscopía Confocal RAMAN, Microscopía FTIR y Microscopía de
fuerza atómica (AFM). También se abarcará el uso de técnicas combinadas de AFM y sus diferentes modos de operación y técnicas combinadas AFM-RAMAN tales como TERS, SERS y Colocalizado. Las técnicas descritas se emplearán también para cuantificar y mapeo molecular de materiales y uso complementarios de los análisis
mediante técnicas vibracionales como RAMAN-FTIR. El curso está enfocado a materiales poliméricos, cerámicos, metales y materiales compuestos.

Contenidos Teóricos:
Módulo 1. Microscopia de Fuerza Atómica y Técnica combinadas
Temática:

A: Antecedentes del microscopio de fuerza atómica.
B: Instrumentación del microscopio de fuerza atómica.
C: Modos de trabajo en el microscopio de fuerza atómica.
D: Mediciones en el microscopio de fuerza atómica.
E: Aplicaciones del Microscopio de fuerza atómica.

Módulo 2. Espectroscopia y Microscopía RAMAN
Temática:

A. Fundamentos Teóricos de la Espectroscopia Raman.
B. Reseña Histórica.
C. Teoría Clásica del Efecto Raman.
D. Reglas de Selección.
E. Relación entre la intensidad Stokes y la intensidad anti-Stokes
F. Sección Transversal Raman.
G. Teoría Cuántica del Efecto Raman.
H. Relación entre la Simetría, las Reglas de selección y las Intensidades de las líneas Stokes y Anti-Stokes.
I. Aplicaciones.

Módulo 3. Espectroscopia y Microscopía FTIR, Espectroscopia UV-Vis
Temática:

A. Interacción radiación materia.
B. Espectro electromagnético y fundamentos teóricos UV-Vis y FTIR.
C. Análisis instrumental de las técnicas.
D. Preparación de muestras y sistemas de acople.
E. Accesorios de medición y análisis en continuo.
F. Fundamentos de Microscopia FTIR.
G. Aplicaciones FTIR en el análisis de materiales Poliméricos, materiales compuestos, cerámicos, casos especiales de precipitados en aleaciones metálicas.
H. Aplicaciones UV-Vis en la caracterización de materiales en general.

Expositores:
Prof. Dr. Jorge Menchaca. Facultad de Ciencias Físico-Matemática, Universidad Autónoma de Nuevo León. México
Prof. Dra. Rosario Castillo. Laboratorio de Espectroscopía Infrarroja y Quimiometría, dpto. de Análisis Fundamental, Facultad de Farmacia, Universidad de Concepción.
Prof. MSc. Ricardo Báez Cruz. Facultad de Ciencias Físicas y Matemáticas, Universidad de Concepción.
Prof. MSc. Joanna Tereszczuk. Unidad FT-IR y Procesamiento de Imágenes, Centro de Microscopía Avanzada CMA BíoBío, Universidad de Concepción.

Primera Reunión CMA Bío- Bío
El día miércoles 20 de Abril del 2011 se celebró la primera reunión del CMA Bío Bío. La reunión fue presidida por el Dr. Francisco Nualart, Director Científico del centro y contó con la participación del Sr. Decano de la Facultad de Ciencias Biológicas de la Universidad de Concepción, Profesor Nelson ... ver +
APLICACIONES DE LA ESPECTROSCOPÍA INFRARROJA EN EL ESTUDIO DE SISTEMAS BIOLÓGICOS: ECOLOGIA, TAXONOMIA Y BIODIVERSIDAD
Expositores Dr. Jaime Rodríguez Fernández. Colección Boliviana de Fauna – Doctor en Entomología, Universidad de Paraná, Curitiba, Brasil. Dra. Rosario Castillo Felices, Facultad de Farmacia, Centro de Biotecnología, Universidad de Concepción. 9:30- 10:15 hrs. Dr. Jaime Rodríguez Fernández. Fundamentos y aplicación de la espectroscopía en el infrarrojo cercano (NIRS) e infrarrojo medio (MIR) ... ver +


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